現貨OTSUKA大塚電子界達電位粒徑ELSZneo分析儀
現貨OTSUKA大塚電子界達電位粒徑分析儀
[ELSZneo 將光散射物理性質評估
　　　　推向新階段] 這
是 ELSZ 系列的頂級型號，除了測量稀溶液到濃溶液中的 Zeta 電位和粒徑之外，還能夠測量分子量。 作為一項新功能，我們采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可以進行顆粒濃度測量、微觀流變測量和凝膠網絡結構分析。
新型

現貨OTSUKA大塚電子界達電位粒徑分析儀

現貨OTSUKA大塚電子界達電位粒徑分析儀

[ELSZneo 將光散射物理性質評估

　　　　推向新階段] 這

是 ELSZ 系列的頂級型號，除了測量稀溶液到濃溶液中的 Zeta 電位和粒徑之外，還能夠測量分子量。 作為一項新功能，我們采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可以進行顆粒濃度測量、微觀流變測量和凝膠網絡結構分析。

新型zeta電位平板池單元具有新開發的涂層，可以處理高鹽濃度，使得在生理鹽水等高鹽濃度環境中進行測量成為可能。我們還擁有可測量 3μL 粒徑的超痕量單元，拓展了生命科學領域的可能性。

特征

能夠在從稀溶液到濃溶液 (~40%)的寬濃度范圍內測量粒徑和 zeta 電位*1

多角度測量能夠以高分辨率測量粒度分布。

可以在高鹽濃度下測量扁平樣品的 Zeta 電位。

可以使用靜態光散射測量顆粒濃度

使用動態光散射法可進行微觀流變測量

凝膠網絡結構和異質性可以通過在多個點測量凝膠樣品來評估。

使用標準流通池連續測量粒徑和 zeta 電位

可在 0 至 90℃ 的寬溫度范圍內進行測量

溫度梯度功能可實現蛋白質變性和相變溫度分析等。

通過實際測量細胞內的電滲流并進行繪圖分析，提供高精度的 zeta 電位測量結果

可加裝熒光截止濾光片（可選）